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ソフトウェアアーキテクチャメトリクス

著者	Christian Ciceri / Dave Farley / Neal Ford / Andrew Harmel-Law / Michael Keeling / Carola Lilienthal
出版社	オライリー・ジャパン
発売日	2024年01月24日頃
サイズ	単行本
価格	3,300 円

アーキテクチャ品質を改善する10のアドバイス

ソフトウェア品質をプロセスの早い段階から計測し、アーキテクチャの負債や技術的負債の蓄積を検知できるようにしておくことは、ソフトウェアの成功にとって重要です。ソフトウェアアーキテクチャに関するメトリクスを適切に導入できれば、パフォーマンスなどのリスクを軽減し、問題に対処するコストを抑えられます。本書は、経験豊かな１０人のソフトウェアアーキテクトたちが、知っておくべきメトリクスについて、貴重な経験やケーススタディと共に紹介します。アーキテクチャが目標にどれだけ合致しているかの計測、追跡すべき適切なメトリクスの選択、可観測性／テスト容易性／デプロイ可能性を向上させる方法、アーキテクチャに対する取り組みの優先順位付け、学びに満ちた適切なダッシュボードの構築を解説します。

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